光譜共焦技術(shù)將軸向距離與波長建立起一套編碼規(guī)則,是一種高精度、非接觸的光學測量技術(shù)?;诠庾V共焦技術(shù)的傳感器作為一種亞微米級、快速精確測量的傳感器,已經(jīng)被大量應(yīng)用于表面微觀形狀、厚度測量、位移測量、在線監(jiān)控及過程控制等工業(yè)測量領(lǐng)域。展望其未來,隨著光譜共焦傳感技術(shù)的發(fā)展,必將在微電子、線寬測量、納米測試、超精密幾何量計量測試等領(lǐng)域得到更多的應(yīng)用。光譜共焦技術(shù)是在共焦顯微術(shù)基礎(chǔ)上發(fā)展而來,其無需軸向掃描,直接由波長對應(yīng)軸向距離信息,從而大幅提高測量速度。光譜共焦技術(shù)具有精度高、效率高等優(yōu)點。天津推薦光譜共焦
在塑料薄膜及透明材料薄厚測量層面,朱萬彬等闡述了光譜共焦傳感器在測量全透明平板電腦的平整度時,由全透明平板電腦的折光率不同而引進的測量誤差并進行補償;曹太騰等基千三維數(shù)據(jù) 測量的機器視覺技術(shù),利用光譜共焦傳感器對透明材料薄厚及弧形玻璃曲面薄厚進行檢測。在外表粗糙度測量層面,沈雪琴等闡述了不一樣 方式測量外表粗糙度時優(yōu)缺點 ,選擇了根據(jù)光譜共焦傳感器的測量方式并進行了有關(guān)試驗,為外表粗糙度的高精密測量提供了一種新方法;林杰俊等利用光譜共焦法測量外表粗糙度樣塊的表面粗糙度,并闡述了其 測量不確定度。文中利用小二乘法測算校準誤差并進行了離散系統(tǒng)誤差測算,減少光譜共焦傳感器校準后的誤差,并在不同精密度標準器下,探尋光譜共焦傳感器的校準誤差的變化情況,對今后對光譜共焦傳感器的應(yīng)用及科學研究擁有重要意義。江西高采樣速率光譜共焦基于白光LED的光譜共焦位移傳感器是一種新型的傳感器。
光譜共焦傳感器可以提供結(jié)合高精度和高速的新現(xiàn)代技術(shù)。這些特性使這些多功能距離和位移傳感器非常適合工業(yè) 4.0 的高要求。在工業(yè) 4.0 的世界中,傳感器必須能夠進行高速測量并提供高精度結(jié)果,以確??煽康馁|(zhì)量保證。光學測量技術(shù)是非接觸式的,于目標材料分開和表面特性,因此它們對生產(chǎn)和檢測過程變得越來越重要。這是“實時”生產(chǎn)過程中的一個主要優(yōu)勢,在這種過程中,觸覺測量技術(shù)正在發(fā)揮其極限,尤其是當目標位于難以接近的區(qū)域時。光譜共焦傳感器提供突破性的技術(shù)、高精度和高速度。此外,共焦色差測量技術(shù)允許進行距離測量、透明材料的多層厚度測量、強度評估以及鉆孔和凹槽內(nèi)的測量。測量過程是無磨損的、非接觸式的,并且實際上與表面特性無關(guān)。由于測量光斑尺寸極小,即使是非常小的物體也能被檢測到。因此,共焦色度測量技術(shù)適用于在線質(zhì)量控制。
在容器玻璃的生產(chǎn)過程中,瓶子的圓度和壁厚是重要的質(zhì)量特征。因此,必須檢查這些參數(shù)。任何有缺陷的容器都會立即被拒絕并返回到玻璃熔體中。高處理速度與防止損壞瓶子的需要相結(jié)合,需要快速的非接觸式測量程序。而光譜共焦傳感器適合這項測量任務(wù)。該系統(tǒng)在兩個點上同步測量。數(shù)據(jù)通過 EtherCAT 接口實時輸出,厚度校準功能允許在傳感器的整個測量范圍內(nèi)進行精確的厚度測量。無論玻璃顏色如何,自動曝光控制都可以實現(xiàn)穩(wěn)定的測量。光譜共焦技術(shù)具有軸向按層分析功能,精度可以達到納米級別。
由于每一個波長都可以固定一個距離值,因此,通過將光譜山線峰值波長確定下來,就可以將精確的距離值推算出來。假設(shè)傳感器與物體表面存在相對移動,此時物體表面的中心點恰好處在單色光(A1)的像點處,可以作出光譜儀探測到的光譜曲線。通過測量得到不同的波長值,可以將物體表面不同點之間的相對位移值計算出來。如果配上精細的掃描機構(gòu),就可以對整體的二維表面輪廓及形貌進行精確的測量。相比其他傳統(tǒng)的位移傳感器,光譜共焦傳感器憑借獨特的測量原理,具有測量效率高、精度高、體積小、非接觸等特點,在各個領(lǐng)域都得到了大量的應(yīng)用。光譜共焦技術(shù)的發(fā)展將有助于解決現(xiàn)實生產(chǎn)和生活中的問題。蕪湖光譜共焦哪個品牌好
光譜共焦位移傳感器可以實現(xiàn)非接觸式位移測量。天津推薦光譜共焦
硅片柵線的厚度測量方法我們還用創(chuàng)視智能TS-C系列光譜共焦傳感器和CCS控制器,TS-C系列光譜共焦位移傳感器能夠?qū)崿F(xiàn)0.025 μm的重復精度,±0.02% of F.S.的線性精度,10kHz的測量速度,以及±60°的測量角度,能夠適應(yīng)鏡面、透明、半透明、膜層、金屬粗糙面、多層玻璃等材料表面,支持485、USB、以太網(wǎng)、模擬量的數(shù)據(jù)傳輸接口。。我們主要測量太陽能光伏板硅片刪線的厚度,所以我們這次用單探頭在二維運動平臺上進行掃描測量。柵線測量方法:首先我們將需要掃描測量的硅片選擇三個區(qū)域進行標記如圖1,用光譜共焦C1200單探頭單側(cè)測量,柵線厚度是柵線高度-基底的高度差。二維運動平臺掃描測量(由于柵線不是一個平整面,自身有一定的曲率,對測量區(qū)域的選擇隨機性影響較大)天津推薦光譜共焦